更新情報

2023.11.16


OPENクラス決勝戦見学のお申し込み、U-30クラス決勝戦見学のお申し込みを開始しました。

▶OPENクラス決勝戦見学のお申し込みを掲載しました


▶U-30クラス決勝戦見学のお申し込みを掲載しました


2023.10.30


▶【訃報】OPENクラス本部審査委員会 審査委員長である西康晴氏が逝去されました。

2023.09.24


▶U-30クラスの決勝成果物提出日を変更しました。


▶OPENクラスの決勝成果物を追加しました。


▶U-30クラスの決勝成果物を追加しました。


▶OPENクラス予選の見学をご希望の方へを掲載しました。


and more

テスト設計コンテスト’23 概要

ソフトウェアが世の中の基盤として定着するにつれ、その信頼性、安全性、使用性等を保証するテストの重要性はますます高まりつつあります。しかしながら、テストはソフトウェアの開発において最終段階の重要な位置を占めるにもかかわらず、人海戦術で何とかしのいでいるという状況が多いのではないでしょうか。ソフトウェアを構築する際、いきなりコーディングを行うのではなく、まずは要求分析・設計を行うのと同様に、対象の分析・設計から行うことが効率的かつ信頼性の高いテストを行う上で必要です。しかし多忙を極める現場でテスト設計技術や手法を使いこなすのは難しく、悩みや課題は尽きません。テストエンジニアは悩みや課題に対し、様々な工夫を凝らしていますが、その多くは世に知られることもなく進化を遂げる機会を失っていると言えるでしょう。

テスト設計技術はソフトウェア設計技術と同じく、広く共有し、様々な意見を交換することでさらに進化していくことができます。
JaSST'11 Tokyoより、ソフトウェアテスト技術の向上と促進の機会を提供する場として、テスト設計コンテストを開催しました。コンテストでは、多くのテスト技術者が互いにテスト設計のノウハウやテスト設計の実例などの成果物を公開/共有することができ、多方面から高評価をいただいています。

2017年より、従来のコンテストに加え、若手の方のみが参加できるU-30クラスを設けました。
コンテスト参加という形でテスト設計の観点・技法・方法論を楽しみながらともに成長する機会を提供したいと考えています。
テスト設計を始めたばかりの若い方、自分の仲間と共にさまざまな技術を試してみませんか?

また、従来のコンテストはOPENクラスとして継続いたします。
テスト設計の腕に覚えのある方、独自のテスト設計手法をお持ちの方、是非この機会に腕試しをしてみませんか?また、噂のスゴ腕をご存知の方は、是非コンテストへの出場をお勧めいただけないでしょうか?
参加は個人、企業、学校関係、コミュニティ等の枠を問いません。皆様からの多数のエントリーをお待ちしております。


 

目的

    テスト設計コンテストは以下を目的として実施します。
  • ソフトウェアテストを分析設計から行うことを周知し、ソフトウェアテストエンジニアに対する教育の機会を提供する
  • コンテストという形式をとることにより、ソフトウェアテストが創造的な作業であり、楽しいということを経験してもらい、若年層及び初級テストエンジニアからベテランテストエンジニアまでテストへの興味を高める
  • ソフトウェアテスト業界における技術開発を競技を通じ、促進する

コンテスト方式

指定のテストベースに対するテスト設計を行い、その優劣を競います。
コンテストのレベルには、OPENクラスとU-30クラスがあります。U-30クラスは、30歳以下の方に限定させていただきます。
OPENクラスのコンテストでは各地域予選を行い、優秀と認められたチームが決勝戦へ出場する権利を得ます。
決勝戦では予選を通過したチームが集い、その腕を競います。予選で作成したテスト設計資料をさらにブラッシュアップすることで、技術を進化させる楽しみを味わってください。
U-30クラスは書類による予選を行い、優秀と認められたチームが決勝戦へ出場する権利を得ます。
U-30クラス、OPENクラスともに、各地域でチュートリアルを実施します。チュートリアルではテスト設計に関する講義を行います。このチュートリアルは一般の方も参加可能です。参加予定チームはもちろん、一般の方もぜひご聴講ください。

コンテストの流れとスケジュール

◆チュートリアル

コンテスト参加チームの参考になるよう、テスト設計に関するチュートリアルや説明会を実施します。
各イベントは、テスト設計コンテスト参加チームでない方の聴講も可能です。
コンテスト参加チームには、特にテスト設計コンテスト説明会へのご参加をお勧めします。
テスト設計コンテスト説明会の要領については<テスト設計コンテスト説明会>を、テスト設計チュートリアルの要領については<テスト設計チュートリアル テスコン編><テスト設計チュートリアル ちびこん編>をご参照ください。
テスト設計コンテスト説明会 2023年4月27日 19:00~ ▶終了しました
テスト設計コンテスト OPEN クラステスト ベース説明会 2023年7月13日 19:00~ ▶終了しました
テスト設計チュートリアル テスコン編 2023年6月14日 19:00~ ▶終了しました
テスト設計チュートリアル ちびこん編 2023年5月24日 19:00~ ▶終了しました

◆参加登録

参加チームを登録していただきます。
OPENクラスは、参加チームの主な活動地域に従って、地域予選に出場、または書類選考をもって予選とさせていただきます。
参加希望チームは、<OPENクラス 参加要項・審査基準><U-30クラス 参加要項・審査基準>をご確認のうえ登録をお願いします。
OPENクラス コンテスト参加お申込み 2023年4月27日~2023年7月10日
U-30クラス コンテスト参加お申込み 2023年4月27日~2023年7月10日

◆予選成果物提出

テスト設計に取り組んでいただきテスト設計成果物を期日までに提出いただきます。
OPENクラス 予選成果物提出 2023年8月21日
U-30クラス 予選成果物提出 2023年7月31日

◆予選

OPENクラスは、各地域予選にて成果物を審査、プレゼンテーションを行います。そこで優秀チームを選出します。決勝戦へ選出する優秀チーム数は予選参加チーム数により、1~3チームを予定しています。
U-30クラスは、書類のみで成果物を審査し、優秀チームを選出します。
・OPENクラス 予選
東京予選全国統一予選

2023年9月23日▶終了しました

・U-30クラス 予選

書類審査

2023年9月中旬予定▶終了しました


◆決勝成果物提出

決勝へ提出したテスト設計成果物をさらにブラッシュアップし、期日までに提出いただきます。
OPENクラス 決勝成果物提出 2023年12月25日
U-30クラス 決勝成果物提出 2023年10月31日2023 年11 月30 日

◆決勝戦

決勝戦にて、プレゼンテーションを行っていただき、優勝チームと準優勝チームを選出します。
OPENクラス 決勝戦 2024年1月27日
U-30クラス 決勝戦 2024年1月27日


◆決勝戦の見学をご希望の方へ

以下のサイトよりお申し込みください。
https://aster.connpass.com/event/302077/

公式SNS

◀twitterアカウント テスコンくんが速報や締め切りについてなどを呟いています。是非フォローをお願いします。
◀YouTubeチャンネル チュートリアルや説明会の当日動画を公開しています。チャンネル登録をお願いします。

テスト設計コンテスト運営組織

主催
NPO法人 ソフトウェアテスト技術振興協会(ASTER)

    ◆OPENクラス

  • 本部審査委員会
  • 審査委員長
    •     西 康晴 (電気通信大学)
  • 審査委員
    •     鈴木 三紀夫 (NPO法人 ASTER理事)
    •     湯本 剛 (freee)
    •     吉澤 智美 (日本電気)


    • 地域審査委員会
    • ★…地域審査委員長、☆…地域審査副委員長)

    • 北海道予選審査委員
    •     小楠 聡美 (HBA)★
    •     根本 紀之 (東京エレクトロン)
    • 東京予選審査委員
    •     町田 欣史 (NTTデータグループ)★
    •     喜多 義弘 (長崎県立大学)
    •     佐々木 方規 (ベリサーブ)
    •     西 康晴 (電気通信大学)
    •     長谷川 聡 (ベリサーブ)
    •     吉澤 智美 (日本電気)
    • 東海/関西予選審査委員
    •     秋谷 勤 (日本電気)★
    •     武林 亮太 (JaSST関西実行委員会)
    •     堀川 透陽 (ベリサーブ)
    •     近美 克行 (シーイーシー)
    • (★…東海予選審査委員長、☆…関西予選審査委員長)
    • 書類選考予選審査委員
    •     町田 欣史 (NTTデータグループ)★
    •     喜多 義弘 (長崎県立大学)
    •     佐々木 方規 (ベリサーブ)
    •     西 康晴 (電気通信大学)
    •     長谷川 聡 (ベリサーブ)
    •     吉澤 智美 (日本電気)

      ◆U-30クラス

      審査委員長
    •     大段 智広 (DMM.com)

    • 審査委員
    •     井芹 洋輝 (テスト設計コンテスト審査委員会)
    •     井芹 久美子(テスト設計コンテスト審査委員会)
    •     奥村 健二 (ASTER)
    •     坂 静香 (テスト設計コンテスト審査委員会)
    •     蛭田 恭章 (ベリサーブ)
    •     山﨑 崇 (ベリサーブ)


      ◆実行委員会

    • 共同実行委員長 :
    •     佐藤 陽春 (テスト設計コンテスト実行委員会)
    •     杉田 正実 (田研出版)

    • 実行委員 :
    •     秋谷 勤 (日本電気)
    •     飯塚 弘敏 (テスト設計コンテスト実行委員会)
    •     大段 智広 (DMM.com)
    •     小楠 聡美 (HBA)
    •     加澤 繁信 (NTTデータMSE)
    •     來山 薫(テスト設計コンテスト実行委員会)
    •     近美 克行(シーイーシー)
    •     西尾 泰彦(豆蔵)
    •     沼田 千紘 (テスト設計コンテスト実行委員会)
    •     根間 才治 (テスト設計コンテスト実行委員会)
    •     根本 紀之 (東京エレクトロン)
    •     藤田 将志 (東京エレクトロン)
    •     吉澤 智美 (日本電気)