テスト設計コンテストについて
コンテストの開催背景や目的、運営組織の情報をまとめています。
コンテスト開催背景
ソフトウェアが世の中の基盤として定着するにつれ、その信頼性、安全性、使用性等を保証するテストの重要性はますます高まりつつあります。
しかしながら、テストはソフトウェアの開発において最終段階の重要な位置を占めるにもかかわらず、人海戦術で何とかしのいでいるという状況が多いのではないでしょうか。
ソフトウェアを構築する際、いきなりコーディングを行うのではなく、まずは要求分析・設計を行うのと同様に、対象の分析・設計から行うことが効率的かつ信頼性の高いテストを行う上で必要です。
しかし多忙を極める現場でテスト設計技術や手法を使いこなすのは難しく、悩みや課題は尽きません。テストエンジニアは悩みや課題に対し、様々な工夫を凝らしていますが、その多くは世に知られることもなく進化を遂げる機会を失っていると言えるでしょう。
テスト設計技術はソフトウェア設計技術と同じく、広く共有し、様々な意見を交換することでさらに進化していくことができます。
JaSST'11 Tokyo より、ソフトウェアテスト技術の向上と促進の機会を提供する場として、テスト設計コンテストを開催しました。コンテストでは、多くのテスト技術者が互いにテスト設計のノウハウやテスト設計の実例などの成果物を公開／共有することができ、多方面から高評価をいただいています。
2017年より、従来のコンテストに加え、若手の方のみが参加できるU-30クラスを設けました。コンテスト参加という形でテスト設計の観点・技法・方法論を楽しみながらともに成長する機会を提供したいと考えています。テスト設計を始めたばかりの若い方、自分の仲間と共にさまざまな技術を試してみませんか？
また、従来のコンテストはOPENクラスとして継続いたします。テスト設計の腕に覚えのある方、独自のテスト設計手法をお持ちの方、是非この機会に腕試しをしてみませんか？また、噂のスゴ腕をご存知の方は、是非コンテストへの出場をお勧めいただけないでしょうか？参加は個人、企業、学校関係、コミュニティ等の枠を問いません。皆様からの多数のエントリーをお待ちしております。
目的
テスト設計コンテストは以下を目的として実施します。
- ソフトウェアテストを分析設計から行うことを周知し、ソフトウェアテストエンジニアに対する教育の機会を提供する
- コンテストという形式をとることにより、ソフトウェアテストが創造的な作業であり、楽しいということを経験してもらい、若年層及び初級テストエンジニアからベテランテストエンジニアまでテストへの興味を高める
- ソフトウェアテスト業界における技術開発を競技を通じ、促進する
OPENクラス 審査委員会
本部審査委員会
審査委員長
秋谷 勤（日本電気）
審査委員
- 喜多 義弘（長崎県立大学）
- 湯本 剛（フリー）
- 吉澤 智美（日本電気）
地域審査委員会
北海道予選★地域審査委員長
- 小楠 聡美（HBA）★
- 根本 紀之（東京エレクトロン）
東京予選★地域審査委員長
- 町田 欣史（NTTデータグループ）★
- 喜多 義弘（長崎県立大学）
- 佐々木 方規（ベリサーブ）
- 津川 順司（合同会社デロイト トーマツ）
- 長谷川 聡（ベリサーブ）
- 吉澤 智美（日本電気）
東海予選★地域審査委員長
- 近美 克行（シーイーシー）★
- 秋谷 勤（日本電気）
関西予選★地域審査委員長
- 堀川 透陽（本田技術研究所）★
- 廣田 光児（bubo）
U-30クラス 審査委員会
審査委員会
審査委員長
大段 智広（DMM.com）
審査委員
- 井芹 洋輝（テスト設計コンテスト審査委員会）
- 井芹 久美子（テスト設計コンテスト審査委員会）
- 神田 繁良（テスト設計コンテスト審査委員会）
- 城本 由希（テスト設計コンテスト審査委員会）
- 坂 静香（テスト設計コンテスト審査委員会）
- 蛭田 恭章（ベリサーブ）
- 山﨑 崇（ベリサーブ）
実行委員会
実行委員会
共同実行委員長
- 佐藤 陽春（テスト設計コンテスト実行委員会）
- 杉田 正実（田研出版）
実行委員
- 秋谷 勤（日本電気）
- 飯塚 弘敏（テスト設計コンテスト実行委員会）
- 大段 智広（DMM.com）
- 小楠 聡美（HBA）
- 川﨑 久美（テスト設計コンテスト実行委員会）
- 神田 繁良（テスト設計コンテスト実行委員会）
- 來山 薫（テスト設計コンテスト実行委員会）
- 児玉 達哉（フリー）
- 後藤 香織（ポールトゥウィン）
- 笹瀬 いずみ（テスト設計コンテスト実行委員会）
- 島根 義和（LegalOn Technologies）
- 近美 克行（シーイーシー）
- 西尾 泰彦（ProVision）
- 沼田 千紘（フリー）
- 根間 才治（テスト設計コンテスト実行委員会）
- 根本 紀之（東京エレクトロン）
- 平畑 和（株式会社ヒューマンクレスト）
- 梁川 貴史（テスト設計コンテスト実行委員会）
- 吉澤 智美（日本電気）